
產(chǎn)品特性:布魯克電子顯微鏡分析儀 QUANTAX FlatQUADX射線檢測的效率高,SEM 中的納米級分辨率,固體角代表探測器采集樣品產(chǎn)生的 X 射線的幾何收集效率,比傳統(tǒng)的 EDS 探測器快4倍.
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QUANTAX FlatQUAD 是基于革命性 XFlash® FlatQUAD 的 EDS 分析系統(tǒng)。QUANTAX FlatQUAD 與 ESPRIT 分析軟件套件相結(jié)合,即使是對于困難的EDS樣品,可以提供的面分析性能。
QUANTAX FlatQUAD 與 ESPRIT 軟件套件一起,提供理想的儀器軟硬件,用于分析低電流才穩(wěn)定的敏感樣品或很粗糙的樣品。
XFlash® FlatQUAD還可以將您的 SEM 或 FIB 轉(zhuǎn)換為低電壓的 STEM,以更及時、更經(jīng)濟(jì)方式實(shí)現(xiàn)高的空間和光譜分辨率。
如果要從電子透明樣品中獲得更多信息,比如晶體學(xué)信息,可以請將 XFlash® FlatQUAD與布魯克 EBSD 改裝的 TKD 探測器結(jié)合使用。
為用戶提供詳盡的儀器用途、重要參數(shù)的說明,還為客戶提供不同品牌產(chǎn)品間的性能比較,給用戶最中肯的購買建議。
安裝驗(yàn)收合格后整機(jī)保修壹年。在質(zhì)保期內(nèi),我們負(fù)責(zé)為用戶的設(shè)備提供免費(fèi)維護(hù)、保養(yǎng)和免費(fèi)更換損壞的零部件;
為用戶提供詳盡的儀器用途、重要參數(shù)的說明,還為客戶提供不同品牌產(chǎn)品間的性能比較,給用戶中肯的購買建議。
安裝驗(yàn)收合格后整機(jī)保修壹年。在質(zhì)保期內(nèi),我們負(fù)責(zé)為用戶的設(shè)備提供免費(fèi)維護(hù)、保養(yǎng)和免費(fèi)更換損壞的零部件;