具有細(xì)管徑技術(shù)的EDS，適合您的 SEM、FIB 和 EPMA

再一次，布魯克為掃描電子顯微鏡的能量分散光譜設(shè)定了性能和功能標(biāo)準(zhǔn)。新一代 QUANTAX EDS 采用XFlash^® 6探測(cè)器系列，探測(cè)器的有效面積為 10 至 100 mm^2。

第 6 代 EDS 提供硬件和軟件技術(shù)，以實(shí)現(xiàn)很快、可靠的結(jié)果：

節(jié)省時(shí)間 - 擁有細(xì)管徑技術(shù)的新型探測(cè)器、大面積硅漂移探測(cè)器、可控制多個(gè)探測(cè)器以及具有高性能的脈沖處理器，更快地完成工作

節(jié)省工作量 - 電動(dòng)馬達(dá)控制探測(cè)器移動(dòng)和迷你輕質(zhì)的設(shè)計(jì)，讓探測(cè)器使用起來(lái)更加輕松

獲得更高的精度 - 能量分辨率提供質(zhì)量的譜圖，非常適合用于準(zhǔn)確分析

獲得更棒的可靠性 - 世界上全方面的原子數(shù)據(jù)庫(kù)確?？煽康牡湍芰糠逯底R(shí)別

獲得更高的精度 - 定量算法、基于標(biāo)樣的定量方法和獨(dú)特的有標(biāo)樣和無(wú)標(biāo)樣定量組合提供精度的定量結(jié)果

提升元素分析效率！

布魯克 EDS 可與每一款電子顯微鏡適配的安裝、并提供速度和精度，這使得布魯克 EDS 為任何實(shí)驗(yàn)室提供了大的 EDS 系統(tǒng)。此系統(tǒng)包括光譜成像，使微納米分析不再是一個(gè)挑戰(zhàn)。

XFlash^® 系列還為 TEM 和 STEM 提供優(yōu)化解決方案，以及獨(dú)特的XFlash^® FlatQUAD，一種用于困難樣品表征的探測(cè)器。

此外，EDS 可以與 EBSD、Micro-XRF 和 WDS 的無(wú)縫集成一款軟件中，布魯克的 ESPRIT 為任何 SEM、FIB 和 EPMA 提供了全方面的分析平臺(tái)。