
產(chǎn)品特性:FEI 掃描電子顯微鏡Teneo可為金屬研究人員、學(xué)術(shù)和工業(yè)研究機(jī)構(gòu)提供高分辨率成像和很高通量分析性能.
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高分辨率成像和高通量分析性能
FEI 的 Teneo SEM 可為金屬研究人員、學(xué)術(shù)和工業(yè)研究機(jī)構(gòu)提供高分辨率成像和很高通量分析性能。
檢測領(lǐng)域的一場變革 - 獨特的 TrinityTM 檢測方法能夠?qū)V泛的樣本提供很高對比度,
從而使得成像速度很快并令圖像易于解釋。通過與標(biāo)準(zhǔn)室型檢測器同步運行的三個單獨的鏡頭內(nèi)檢測器,
可從各個角度執(zhí)行同步檢測,從而節(jié)省時間、提供很多信息并防止樣本污染和受損。
Teneo 的生命科學(xué)應(yīng)用
在細(xì)胞和組織的自然背景下解開其復(fù)雜的三維架構(gòu),這對于生物系統(tǒng)中的結(jié)構(gòu)功能相關(guān)性非常重要。
通過結(jié)合串行塊面 SEM (SBF-SEM) 和多能反卷積 SEM (MED-SEM),Teneo VS 以各向同性三維分辨率實現(xiàn)大體積成像。
大體積樣本各向同性三維數(shù)據(jù):MED-SEM 提供的良好 Z 軸分辨率和原位切片 對所有樣本的高對比度和很高分辨率:鏡頭內(nèi)探測器在高真空 (HiVac) 模式下提供很高對比度和SNR, 專用探測器在低真空模式 (LoVac) 下提供分辨率和電荷緩解。
在普通 SEM 用途和串行塊面成像之間輕松切換:安裝在載片臺上的切片機(jī)外形緊湊,可輕松更換刀片
任何操作員均可即刻上手:高度自動化和易用性設(shè)計可提高操作員的效率,幫助完成大規(guī)模實驗
Teneo VS SEM 生命科學(xué)應(yīng)用
獲取大體積樣品的很高質(zhì)量各向同性三維數(shù)據(jù)
Teneo VS™ 是全新的串行塊面成像解決方案,將多能反卷積 SEM 的良好 Z 軸分辨率與原位切片的效有率相結(jié)合。Teneo VS 在細(xì)胞和組織的自然背景下解開其復(fù)雜的三維架構(gòu),這對于洞悉生物系統(tǒng)中的結(jié)構(gòu)功能相關(guān)性非常重要。
Teneo VS 的自動化和易用性可提高不同經(jīng)驗水平的操作員的工作效率,令其可在各向同性分辨率下采集大體積樣品
主要優(yōu)勢
大體積樣品各向同性三維數(shù)據(jù):
適用于所有樣品的很高對比度和分辨率:
透境內(nèi)和柱內(nèi)探測器在高真空模式下提供很高對比度和很好 SNR,同時,專用探測器在低真空模式下提供很好分辨率。
在普通 SEM 用途和串行塊面成像之間輕松切換:
安裝在載片臺上的切片機(jī)外形緊湊,可輕松更換刀片。
任何操作員均可即刻上手:
高度自動化和易用性設(shè)計可提高操作員的效率,激勵完成大規(guī)模實驗。
通過 CLEM 方法快速識別觀察區(qū)域,并通過自動化多層既定行程覆蓋大體積樣品。
為用戶提供詳盡的儀器用途、重要參數(shù)的說明,還為客戶提供不同品牌產(chǎn)品間的性能比較,給用戶最中肯的購買建議。
安裝驗收合格后整機(jī)保修壹年。在質(zhì)保期內(nèi),我們負(fù)責(zé)為用戶的設(shè)備提供免費維護(hù)、保養(yǎng)和免費更換損壞的零部件;
為用戶提供詳盡的儀器用途、重要參數(shù)的說明,還為客戶提供不同品牌產(chǎn)品間的性能比較,給用戶中肯的購買建議。
安裝驗收合格后整機(jī)保修壹年。在質(zhì)保期內(nèi),我們負(fù)責(zé)為用戶的設(shè)備提供免費維護(hù)、保養(yǎng)和免費更換損壞的零部件;